Perfilômetro
Bruker, DektakXT Stylus
Responsável: Prof. André Avelino Pasa
O sistema permite medir variações de altura na superfície da amostra. A medida é realizada eletromecanicamente movendo uma ponta de ponta de diamante sobre a superfície da amostra de acordo com um comprimento de varredura programado pelo usuário, velocidade e força de estilete. A caneta é ligada a um Transformador Diferencial Variável Linear (LDVT), que produz e processa sinais elétricos que correspondem a variações superficiais da amostra.
Nosso sistema só é configurado no modo 2D:
- Translação XY manual: 101,6 x 101,6 mm (4 x 4 polegadas) de translação XY;
- Nivelamento manual;
- Espessura máxima da amostra: 50 mm;
- Comprimento máximo da varredura: 55 mm;
- Diâmetro da ponta da agulha: 2 mícrons;
