Perfilômetro

Bruker, DektakXT Stylus 
Responsável: Prof. André Avelino Pasa

       O sistema permite medir variações de altura na superfície da amostra. A medida é realizada eletromecanicamente movendo uma ponta de ponta de diamante sobre a superfície da amostra de acordo com um comprimento de varredura programado pelo usuário, velocidade e força de estilete. A caneta é ligada a um Transformador Diferencial Variável Linear (LDVT), que produz e processa sinais elétricos que correspondem a variações superficiais da amostra.

Nosso sistema só é configurado no modo 2D:

  • Translação XY manual: 101,6 x 101,6 mm (4 x 4 polegadas) de translação XY;
  • Nivelamento manual;
  • Espessura máxima da amostra: 50 mm;
  • Comprimento máximo da varredura: 55 mm;
  • Diâmetro da ponta da agulha: 2 mícrons;

Agenda de operação